基于X射线阵列组合折射透镜的微束X射线荧光分析系统
基于X射线阵列组合折射透镜的微束X射线荧光分析系统
所有权人 | 专利号 | ||
---|---|---|---|
浙江工业大学 | ZL201*****6527.4 | ||
拟受让单位所在区域 | 联系邮箱 | 受让方是否是成果完成人或者其利害关系人 | |
wushuang@zjut.edu.cn | 否 | ||
出让方式 | 公示备注 | ||
专利权转让 | -- |
"一种基于X射线阵列组合折射透镜的微束X射线荧光分析系统,包括X射线光管,可见光激光器,X射线阵列组合折射透镜集成组件,样品台,X射线探测器及其信息采集分析模块,所述X射线光管或可见光激光器均和X射线阵列组合折射透镜集成组件,样品台的被测样品位于同一光轴上,所述X射线探测器贴近被测样品放置,所述X射线探测器与信息采集分析模块相连.本发明提供一种同时具备高微区分辨率和高灵敏度,并可进行现场分析的小型化微束X射线荧光分析系统."
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