硅单晶器件表面缺陷测量系统-硅单晶器件表面缺陷测量系统采购项目

硅单晶器件表面缺陷测量系统-硅单晶器件表面缺陷测量系统采购项目

一、合同编号: 24XK-JLYHK127

二、合同名称: 硅单晶器件表面缺陷测量系统

三、项目编号: JZZX-GH-*******

四、项目名称: 中国计量科学研究院硅单晶器件表面缺陷测量系统采购项目

五、合同主体

采购人(甲方): 中国计量科学研究院

地 址: 北京市朝阳区北三环东路18号

联系方式:185XXXX6824

供应商(乙方): 武汉瑞德仪科技有限公司

地 址:武汉东湖新技术开发区雄楚大道888号金地·雄楚1号一期商2幢10层2号

联系方式:137XXXX8149

六、合同主要信息

主要标的名称:硅单晶器件表面缺陷测量系统

规格型号(或服务要求):Dimension Icon

主要标的数量:1

主要标的单价:*******.00

合同金额:187.******万元

履约期限、地点等简要信息:合同签订后180天内,用户指定地点

采购方式:公开招标

七、合同签订日期:2024-11-21

八、合同公告日期:2024-11-27

九、其他补充事宜:

附件:

  • 24-127合同-硅单晶器件表面缺陷测量系统-杜华187万.pdf
  • 中标通知书_AGS*****_硅单晶器件表面缺陷测量系统.pdf

免责声明:本页面提供的政府采购合同是按照《中华人民共和国政府采购法实施条例》的要求由采购人发布的,中国政府采购网对其内容概不负责,亦不承担任何法律责任。

,北京市,武汉

联系人:郝工
电话:010-68960698
邮箱:1049263697@qq.com

标签: 测量 单晶

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