硅单晶器件表面缺陷测量系统-硅单晶器件表面缺陷测量系统采购项目
硅单晶器件表面缺陷测量系统-硅单晶器件表面缺陷测量系统采购项目
一、合同编号: 24XK-JLYHK127
二、合同名称: 硅单晶器件表面缺陷测量系统
三、项目编号: JZZX-GH-*******
四、项目名称: 中国计量科学研究院硅单晶器件表面缺陷测量系统采购项目
五、合同主体
采购人(甲方): 中国计量科学研究院
地 址: 北京市朝阳区北三环东路18号
联系方式:185XXXX6824
供应商(乙方): 武汉瑞德仪科技有限公司
地 址:武汉东湖新技术开发区雄楚大道888号金地·雄楚1号一期商2幢10层2号
联系方式:137XXXX8149
六、合同主要信息
主要标的名称:硅单晶器件表面缺陷测量系统
规格型号(或服务要求):Dimension Icon
主要标的数量:1
主要标的单价:*******.00
合同金额:187.******万元
履约期限、地点等简要信息:合同签订后180天内,用户指定地点
采购方式:公开招标
七、合同签订日期:2024-11-21
八、合同公告日期:2024-11-27
九、其他补充事宜:
附件:
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