科技创新研究院高性能光纤光谱仪采购项目竞价成交公告
科技创新研究院高性能光纤光谱仪采购项目竞价成交公告
| 序号 | 名称 | 品牌/型号 | 数量(单位) | 单价(元) | 应标技术参数 |
| 1 | 光纤光谱仪 | 海洋光学/QEPro | 1/台 | ****** | 1、波长范围：≥200~980nm； 2、检测器：薄型背照式面阵CCD，有效像素≥1024×58像元，且带有三级TE制冷，制冷恒定可达-10℃； 3、光路：f/4，对称交叉式Czerny-Turner，输入焦距和输出焦距≥101mm； 4、积分时间与信噪比：积分时间≥8ms~60min，信噪比≥1000:1（全信号）； 5、支持原位连续或单次采集力致发光、光致、电致等样品器件的发射光谱；全波长光谱数据可手动及定时自动保存硬盘中（需提供：定时自动保存至硬盘功能的软件截图予以证明）； 6、支持实时谱图的高速采集，最大频率125Hz，可生成随时间变化的三维光谱图（全波长）； 7、任意指定某一波长、某几个波长的数据进行实时趋势检测，并生成趋势图，连续自动存储数据于硬盘，连续运行时间≥7×24小时；趋势功能带有记忆（沿用上次设定、波长定义、公式）； 8、测量数据导出为Excel、txt文档、Jpg图片等； 9、支持外部TTL信号触发及光敏触发测量，支持单次触发和多次触发；支持TCP-IP通讯光谱采集软件；光谱分析软件支持C++/Csharp平台的二次开发（需提供：TCP-IP通讯例子截图及其说明文档截图予以证明，和二次开发DLL例子截图及其说明文档截图予以证明）； 10、吸收检测能力：≥380~950nm光谱范围的A吸光度OD检测能力不小于4.5（验收测试重点考核指标） 11、薄膜厚度测量：膜厚测量能力范围不小于10nm~350um |
| 序号 | 名称 | 品牌/型号 | 数量(单位) | 单价(元) | 应标技术参数 |
| 1 | 光纤光谱仪 | 海洋光学/QEPro | 1/台 | ****** | 1、波长范围：≥200~980nm； 2、检测器：薄型背照式面阵CCD，有效像素≥1024×58像元，且带有三级TE制冷，制冷恒定可达-10℃； 3、光路：f/4，对称交叉式Czerny-Turner，输入焦距和输出焦距≥101mm； 4、积分时间与信噪比：积分时间≥8ms~60min，信噪比≥1000:1（全信号）； 5、支持原位连续或单次采集力致发光、光致、电致等样品器件的发射光谱；全波长光谱数据可手动及定时自动保存硬盘中（需提供：定时自动保存至硬盘功能的软件截图予以证明）； 6、支持实时谱图的高速采集，最大频率125Hz，可生成随时间变化的三维光谱图（全波长）； 7、任意指定某一波长、某几个波长的数据进行实时趋势检测，并生成趋势图，连续自动存储数据于硬盘，连续运行时间≥7×24小时；趋势功能带有记忆（沿用上次设定、波长定义、公式）； 8、测量数据导出为Excel、txt文档、Jpg图片等； 9、支持外部TTL信号触发及光敏触发测量，支持单次触发和多次触发；支持TCP-IP通讯光谱采集软件；光谱分析软件支持C++/Csharp平台的二次开发（需提供：TCP-IP通讯例子截图及其说明文档截图予以证明，和二次开发DLL例子截图及其说明文档截图予以证明）； 10、吸收检测能力：≥380~950nm光谱范围的A吸光度OD检测能力不小于4.5（验收测试重点考核指标） 11、薄膜厚度测量：膜厚测量能力范围不小于10nm~350um |
| 序号 | 名称 | 品牌/型号 | 数量(单位) | 单价(元) | 应标技术参数 |
| 1 | 光纤光谱仪 | 海洋光学/QEPro | 1/台 | ****** | 1、波长范围：≥200~980nm； 2、检测器：薄型背照式面阵CCD，有效像素≥1024×58像元，且带有三级TE制冷，制冷恒定可达-10℃； 3、光路：f/4，对称交叉式Czerny-Turner，输入焦距和输出焦距≥101mm； 4、积分时间与信噪比：积分时间≥8ms~60min，信噪比≥1000:1（全信号）； 5、支持原位连续或单次采集力致发光、光致、电致等样品器件的发射光谱；全波长光谱数据可手动及定时自动保存硬盘中（需提供：定时自动保存至硬盘功能的软件截图予以证明）； 6、支持实时谱图的高速采集，最大频率125Hz，可生成随时间变化的三维光谱图（全波长）； 7、任意指定某一波长、某几个波长的数据进行实时趋势检测，并生成趋势图，连续自动存储数据于硬盘，连续运行时间≥7×24小时；趋势功能带有记忆（沿用上次设定、波长定义、公式）； 8、测量数据导出为Excel、txt文档、Jpg图片等； 9、支持外部TTL信号触发及光敏触发测量，支持单次触发和多次触发；支持TCP-IP通讯光谱采集软件；光谱分析软件支持C++/Csharp平台的二次开发（需提供：TCP-IP通讯例子截图及其说明文档截图予以证明，和二次开发DLL例子截图及其说明文档截图予以证明）； 10、吸收检测能力：≥380~950nm光谱范围的A吸光度OD检测能力不小于4.5（验收测试重点考核指标） 11、薄膜厚度测量：膜厚测量能力范围不小于10nm~350um |
| 序号 | 名称 | 品牌/型号 | 数量(单位) | 单价(元) | 应标技术参数 |
| 1 | 光纤光谱仪 | 海洋光学/QEPro | 1/台 | ****** | 1、波长范围：≥200~980nm； 2、检测器：薄型背照式面阵CCD，有效像素≥1024×58像元，且带有三级TE制冷，制冷恒定可达-10℃； 3、光路：f/4，对称交叉式Czerny-Turner，输入焦距和输出焦距≥101mm； 4、积分时间与信噪比：积分时间≥8ms~60min，信噪比≥1000:1（全信号）； 5、支持原位连续或单次采集力致发光、光致、电致等样品器件的发射光谱；全波长光谱数据可手动及定时自动保存硬盘中（需提供：定时自动保存至硬盘功能的软件截图予以证明）； 6、支持实时谱图的高速采集，最大频率125Hz，可生成随时间变化的三维光谱图（全波长）； 7、任意指定某一波长、某几个波长的数据进行实时趋势检测，并生成趋势图，连续自动存储数据于硬盘，连续运行时间≥7×24小时；趋势功能带有记忆（沿用上次设定、波长定义、公式）； 8、测量数据导出为Excel、txt文档、Jpg图片等； 9、支持外部TTL信号触发及光敏触发测量，支持单次触发和多次触发；支持TCP-IP通讯光谱采集软件；光谱分析软件支持C++/Csharp平台的二次开发（需提供：TCP-IP通讯例子截图及其说明文档截图予以证明，和二次开发DLL例子截图及其说明文档截图予以证明）； 10、吸收检测能力：≥380~950nm光谱范围的A吸光度OD检测能力不小于4.5（验收测试重点考核指标） 11、薄膜厚度测量：膜厚测量能力范围不小于10nm~350um |
标签: 高性能光纤光
0人觉得有用|
招标
|
- 关注我们可获得更多采购需求 |
关注 |
广东
广东
最近搜索
无
热门搜索
无
