扫描电子显微镜SEM检查、切片研磨、微电路的失效分析-电特性测试IV曲线采购
扫描电子显微镜SEM检查、切片研磨、微电路的失效分析-电特性测试IV曲线采购
哈尔滨工业大学扫描电子显微镜(SEM)检查、切片研磨(x-section)XKJ-001、微电路的失效分析-电特性测试(IV曲线)采购自行采购成交公告
公告时间: Mon Dec 02 09:56:54 CST 2024
项目信息 | 项目名称 | 扫描电子显微镜(SEM)检查、切片研磨(x-section)XKJ-001、微电路的失效分析-电特性测试(IV曲线)采购 | |||
申购业务号 | |||||
项目编号 | HITZG-******** | ||||
采购单位信息 | 采购单位名称 | 材料科学与工程学院 | |||
采购单位地址 | 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号 | ||||
联系人 | 李兴冀 | ||||
联系方式 | 电话: 137*****235 | ||||
成交信息 | 成交日期 | 2024-11-27 00:00:00 | |||
成 交 价 | *****.5元 | ||||
成交供应商 | 北京特迅捷测试技术有限公司 | ||||
供应商地址 | |||||
采购小组名单 | 杨剑群、吕钢、刘中利 | ||||
采 购 清 单 | |||||
序号 | 名 称 | 规格型号 | 数 量 | 成 交 价 | |
1 | TEM上机 | / | 2个 | *****.5元 | |
2 | 激光束电阻异常侦测(OBIRCH)XKJ-001 | / | 2个 | ||
3 | 红外扫描(EMMI) | / | 4个 | ||
4 | 去层-金属层(铝制程) | / | 16个 | ||
5 | 切片研磨(x-section)XKJ-001 | / | 2个 | ||
6 | 微电路的失效分析-电特性测试(IV曲线) | / | 3个 | ||
7 | 去层-绝缘层(介质层) | / | 16个 | ||
8 | 定点-TEM样品制备(硅) | / | 2个 | ||
9 | IC纵向解剖(Cross-Section)G5 | / | 18个 | ||
10 | 内部目检(单片) | / | 1个 | ||
11 | 扫描电子显微镜(SEM)检查 | / | 1个 | ||
12 | 化学开封-去除聚酰亚胺 | / | 17个 | ||
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