光学显微成像模块性能测试成交公告
光学显微成像模块性能测试成交公告
1.项目名称：光学显微成像模块性能测试
2.成交供应商名称：武汉脑赛思仪器设备有限公司
3.成交供应商地址：武汉市武昌区八一路118号17A层
4.成交金额(币种)：19.000万元
5.付款方式：服务完成且验收合格后30个工作日之内付合同金额的100%。
6.主要成交标的：
| 序号 | 服务内容 | 服务期限 |
| 1 | 分辨率测量：在100× 1.5NA物镜下，测量光片成像模块的横向及轴向分辨率，取不少于15个位点，测量平均值，测量精度1 nm。 | 2025年3月30日之前 |
| 2 | Z轴漂移补偿功能测试：在100× 1.5NA物镜下，测量光片成像模块的Z轴漂移补偿性能，考察漂移补偿范围，取不少于15个位点，测量精度0.1 μm。 | 2025年3月30日之前 |
华中科技大学光学与电子信息学院
2024年12月26日
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