U型椭偏仪中标结果
U型椭偏仪中标结果
| 基本信息： | |
| 申购单主题： | U型椭偏仪 |
| 申购单类型： | 竞价类 |
| 设备类别： | 仪器仪表 |
| 使用币种： | 人民币 |
| 竞价开始时间： | 2018-04-19 09:23 |
| 竞价结束时间： | 2018-04-24 12:00 竞价已结束 |
| 申购备注： | 1、项目预算：490000元；2、质保期：2年；3、付款方式：合同生效并收到相应发票后支付合同总额的30%作为进度款；设备到达指定安装现场且安装、调试验收合格并提供全额发票后支付合同总额的65%；余款5%待质保期满且无质量问题并经学校确认后支付；4、投标报价包含进口代理费以及发生的其他相关费用，办理进口代理及相关服务的机构必须为招标人指定或认可。 |
| 申购设备详情： |
| 中标供应商 | 设备名称 | 数量 | 单位 | 品牌 | 型号 | 是否标配 | 售后服务 | 规格配置 | 中标单价 | 报价说明 | 中标理由 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 芷云光电（上海）有限公司 | U型椭偏仪 | 1 | J.A.Woollam | M-2000U | 按行业标准提供服务 | 1.技术参数1.1*光谱范围：245-1000nm1.2光谱测试间隔：1.6nm@245-1000nm1.3光斑尺寸：300微米1.4补偿技术：采用旋转补偿技术。1.5入射角：65度1.6Z轴（样品台高度）：计算机控制自动调节，最大行程20mm1.7控制计算机：i5 Processor, 3GHz, 4Gb RAM, 500 Gb Hard Drive, DVD /-RW, 19” FPD2.性能参数2.1*测量时间：最快0.05秒；典型1到5秒钟 (245-1690nm全光谱范围）。2.2*测量重复性：膜厚测量优于0.003nm（30次SiO2厚度测量的标准偏差，样品为带有自然氧化层的硅片）。3.软件数据采集及分析软件：5个软件许可，基于Windows系统，超作方便，材料库全、色散模型多、功能强。 | 489500.0 | 总价最低已弃标，根据总价次第原则 |
|
招标
|
- 关注我们可获得更多采购需求 |
关注 |
最近搜索
无
热门搜索
无
