膜厚测量仪（后段厚膜） 评标结果公示公告(1)0613-194022190736
膜厚测量仪（后段厚膜） 评标结果公示公告(1)0613-194022190736
项目名称：膜厚测量仪（后段厚膜）
招标项目编号：****-********0736
招标范围：膜厚测量仪（后段厚膜）
招标机构：上海机电设备招标有限公司
招标人：华虹半导体（无锡）有限公司
开标时间：2019-04-09 09:30
公示开始时间：2019-04-12 17:19
评标公示截止时间：2019-04-15 23:59
中标候选人名单：
| 候选人排名 | 投标商名称 | 制造商 | 制造商国别及地区 |
|---|---|---|---|
| 1 | 吉姆西半导体科技（无锡）有限公司 | 吉姆西半导体科技（无锡）有限公司(登录名gmcsemi) | 中国 |
标签: 测量仪
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